rets相位差光學(xué)材料量

產(chǎn)品特點：可更加精準(zhǔn)的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，大塚rets，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測?？蛇x配傾斜式、旋轉(zhuǎn)式量測平臺，評估三次元折射率參數(shù)分析等眼簾角特性。共同量測樣品，rets偏光膜測試，從容架構(gòu)量測平臺。

  本設(shè)備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN，IPS，MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉(zhuǎn)stage的2個Sample stage。Calibration時，自動set基準(zhǔn)sample。

  本軟件，通過自動制御偏光三棱鏡單元和瞬間多通道測光檢出器以及自動ＸＹ平臺來實施cellgap檢查每個樣品都備有檢查菜單，并且樣品可自動運輸，操作員只需選擇檢查菜單便可輕松完成的測定。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

什么是液晶分子預(yù)傾角以及液晶分子預(yù)傾角對電光特性的影響，說明了精準(zhǔn)測量液晶分子預(yù)傾角對現(xiàn)有液晶顯示器生產(chǎn)和進一步研究液晶顯示技術(shù)有著重要的意義。緊接著文章對現(xiàn)有的液晶分子預(yù)傾角測量方法進行了概述，并且給出了幾種創(chuàng)新性的測量方法。 晶體旋轉(zhuǎn)法是目前廣泛使用的方法，rets，它測試精度高，測試速度快，得到人們的認可。

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