大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

RETS-100閃電發(fā)貨OTSUKA相位差/光學材料量測設備，日本大塚電子；

FPD相關的檢查和評價設備：

動態(tài)畫面反應時間檢測儀：MPRT-2000，

相位差/光學材料量測設備：RETS-100，rets-100測試儀，

發(fā)貨OTSUKA，rets偏光膜測試，日本大塚電子液晶顯示器LCD面板LCD-5200；

本設備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動大型Ｘ－Ｙ平臺以及偏光光學系，測定透過型液晶面板面內的cellgap和預斜角（含ＭＶＡ）的系統(tǒng)。

  本Software自動制御偏光Prism unit和MCPD，測量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的測量。每個Sample品種，會準備Recipe（測量條件File）所以Operator 放置Sample后，rets，選擇Recipe，大塚rets，即可實現測量。

相位差光學材料量

產品特點：可更加精準的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現任一個波長的相位差量測。

光學薄膜

?相位差膜、橢圓膜、相位差板

?偏光膜、附加功效偏光膜、偏光板、別的光學資料

■液晶層

?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強誘電性液晶)

?反射型液晶層(TN，STN)

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