假設(shè)金屬探測器中的采樣電路用于檢測反射脈沖的持續(xù)時(shí)間

假設(shè)金屬探測器下面有一個(gè)金屬物體，脈沖將在物體內(nèi)部形成一個(gè)反向磁場。當(dāng)脈沖產(chǎn)生的磁場衰減并構(gòu)成反射脈沖時(shí)，策略對象產(chǎn)生的磁場可以延長反射脈沖從衰減到消失的時(shí)間。這個(gè)過程的原理有點(diǎn)類似于回聲現(xiàn)象。在金屬探測器中，由策略對象產(chǎn)生的磁場增強(qiáng)了反射脈沖的“回聲”，使其持續(xù)時(shí)間比沒有“回聲”時(shí)稍長。金屬檢測器中的采樣電路用于檢測反射脈沖的持續(xù)時(shí)間。南通金屬檢測儀器將測量的持續(xù)時(shí)間與預(yù)期的持續(xù)時(shí)間進(jìn)行比較，電路可以判斷是否有另一個(gè)磁場延遲反射脈沖的衰減。假設(shè)反射脈沖的衰減時(shí)間比正常情況下長幾微秒，這可能是由于金屬物體的存在干擾了反射脈沖。

具體它在使用的時(shí)候會受到環(huán)境的影響嗎?

金屬探測器是一種用來檢測產(chǎn)品中是否含有金屬的設(shè)備，它被廣泛的應(yīng)用在各大行業(yè)中，尤其是食品藥品行業(yè)，應(yīng)用比較廣泛。那么具體它在使用的時(shí)候會受到環(huán)境的影響嗎？接下來我們就簡單了解下吧。如果金屬檢測器安裝在磁場環(huán)境中，就會讓檢測器的靈敏度受到干擾，令其不能正常的檢測產(chǎn)品，有時(shí)候還會出現(xiàn)檢測器的報(bào)警器亂報(bào)警的現(xiàn)象；不止磁場會影響到檢測器，當(dāng)周圍環(huán)境含有大量的鐵物質(zhì)的時(shí)候也會影響到檢測器的檢測效果，不過相比磁場環(huán)境來說，這種環(huán)境中的檢測器受到的影響不是很大，這也是為什么金屬探測器的探頭使用的是塑料材質(zhì)固定和包裝的原因。

導(dǎo)電效應(yīng)是導(dǎo)電材料和有些食品本質(zhì)上既導(dǎo)電的

導(dǎo)電效應(yīng)是導(dǎo)電材料和有些食品本質(zhì)上既導(dǎo)電的，鹽和水組合在一起，能形成導(dǎo)電效應(yīng)。干性（非導(dǎo)電）產(chǎn)品，如糖果、谷類、餅干、粉料等，由于自身不具導(dǎo)電性，可使用高頻率進(jìn)行檢測，以達(dá)到檢測細(xì)小金屬異物的目的。濕性（易導(dǎo)電）產(chǎn)品，如奶酪、冷鮮肉、果醬面包、腌制品等，情況則相反。由于產(chǎn)品本身會導(dǎo)電，通過金屬檢測區(qū)域的時(shí)候會產(chǎn)生“產(chǎn)品效應(yīng)”，這種效應(yīng)會降低檢測機(jī)的檢測靈敏度，為了探測到細(xì)小的金屬異物染污物，我們必須抑制這種效應(yīng)，可以使用低頻檢測來減少或消除干擾信號。

導(dǎo)磁效應(yīng)是鐵磁性材料和導(dǎo)電材料能產(chǎn)生電抗效應(yīng)

導(dǎo)磁效應(yīng)是鐵磁性材料和導(dǎo)電材料能產(chǎn)生電抗效應(yīng)。通過下圖可以看出，檢測頻率越低，對鐵磁性物質(zhì)具有較好的檢測效果；檢測頻率越高，對非鐵磁性物質(zhì)具有較好的檢測效果。而產(chǎn)品固有的效應(yīng)會隨著頻率的增大而增大。低頻信號更容易檢測出鐵磁類金屬，而高頻信號則更容易檢測出非鐵磁類金屬。所以為了保證檢測精度，我們就需要選擇合適的檢測頻率，來達(dá)到理想的檢測效果。