產(chǎn)品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，F(xiàn)E，分析多層薄膜厚度、光學常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。

應(yīng)用范圍■ FPD

?LCD、TFT、OLED(有機EL)

■ 半導體、復(fù)合半導體

?矽半導體、半導體雷射、強誘電、介電常數(shù)材料

■ 資料儲存

?DVD、磁頭薄膜、磁性材料

■ 光學材料

?濾光片、抗反射膜

■ 平面顯示器

?液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED

■ 薄膜

?AR膜

■ 其它

?建筑用材料

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

產(chǎn)品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，F(xiàn)E3000設(shè)備，分析多層薄膜厚度、光學常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。寬闊的波長量測范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測范圍。(1nm~250μm)對應(yīng)顯微鏡下的微距量測口徑。

 原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產(chǎn)生的發(fā)光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統(tǒng)采用了具有高靈敏度、高穩(wěn)定的本公司的光譜儀對光譜進行測量。

產(chǎn)品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。

大塚FE3000-FE-蘇州大塚電子由大塚電子(蘇州）有限公司提供。大塚電子(蘇州）有限公司堅持“以人為本”的企業(yè)理念，擁有一支技術(shù)過硬的員工隊伍，力求提供更好的產(chǎn)品和服務(wù)回饋社會，并歡迎廣大新老客戶光臨惠顧，真誠合作、共創(chuàng)美好未來。大塚電子——您可信賴的朋友，公司地址：蘇州工業(yè)園區(qū)蘇州大道西1號世紀金融大廈1幢609，聯(lián)系人：曹先生。