儀一六儀器 快速精準(zhǔn)分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進(jìn)的解譜方法，解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析，

微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件.

測(cè)厚儀分類：

一、磁性式

二、渦電流式

三、紅外測(cè)厚儀

四、電解式（庫(kù)倫法）

五、金相測(cè)試法

六、非破壞熒光式（X光）

1.渦流測(cè)厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦liu產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

2.同位素測(cè)厚儀利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理，可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)，歡迎有各種涂鍍層、膜層的檢測(cè)難題來電咨詢！。

測(cè)厚儀

    測(cè)厚儀（thickness gauge ）是用來測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。

介紹：測(cè)厚儀可以用來在線測(cè) 量軋制后的板帶材厚度，并以電訊號(hào)的形式輸出。該電訊號(hào)輸給顯示器和自動(dòng)厚度控制系統(tǒng)，以實(shí)現(xiàn)對(duì)板帶厚度的自動(dòng)厚度控制（AGC）。 目前常見的測(cè)厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種，其安放位置均在板帶軋機(jī)的出口或入 口側(cè)。在線測(cè)厚儀是指在測(cè)厚過程中將測(cè)量結(jié)果實(shí)時(shí)的顯示給使用者或者控制系統(tǒng)，以便使用者或者控制系統(tǒng)能夠及時(shí)的對(duì)異常數(shù)據(jù)作出反應(yīng)，為自動(dòng)化生產(chǎn)一個(gè)重要環(huán)節(jié)。設(shè)計(jì)、安裝測(cè)厚儀時(shí)要在可能的條件下盡量靠近工作輥，目的是降低板厚的滯后調(diào)整時(shí)間。

江蘇一六儀器   X熒光光譜測(cè)厚儀

應(yīng)用領(lǐng)域：

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeAIB

汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)

衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZu(ABS)電鍍液的金屬陽(yáng)離子檢測(cè)

如何選擇測(cè)厚儀的測(cè)點(diǎn)位置

    如何選擇測(cè)厚儀的測(cè)點(diǎn)位置？我們想要使用測(cè)厚儀測(cè)量物品厚度，前提是有測(cè)點(diǎn)位置，相當(dāng)于我們的需要選擇一個(gè)固定點(diǎn)為零值一樣，如此才能夠測(cè)量出具體厚度。 

   應(yīng)用在建筑行業(yè)中,近年來也是很廣泛的,包括許多關(guān)于涂層的厚度檢測(cè)環(huán)節(jié)都要用到的.在工程施工中,測(cè)厚儀用來檢測(cè)控制鋼結(jié)構(gòu)防 火涂料的涂刷厚度.

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X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些

首先,是X射線的高壓控制箱會(huì)對(duì)測(cè)量的精度造成一定的影響。X射線測(cè)厚儀的測(cè)量原理就是通過施加高壓電源出X射線,通過X射線的穿透物體時(shí)的衰減量來測(cè)量被測(cè)物體的厚度。但是高壓控制箱的安裝位置會(huì)對(duì)測(cè)厚儀的準(zhǔn)確度造成一定的影響。安裝的位置不當(dāng)就會(huì)使測(cè)量的精度不準(zhǔn)確波動(dòng)比較明顯。插拔測(cè)頭時(shí)，應(yīng)捏住活動(dòng)外套沿軸線用力，不可旋轉(zhuǎn)測(cè)頭，以避免損壞測(cè)頭電纜芯線。另外,X射線本身的衰減也會(huì)影響測(cè)厚儀的測(cè)量精度。