FE3000反射式膜厚量測儀:產品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。

可在軟件上設定激發(fā)光源的波長及步值，實現(xiàn)自動測量

電流-量子效率曲線

電流-光通量曲線

電流-功率曲線

電流-色溫曲線

電流-色坐標曲線

電流-顯色性曲線

電流-電壓曲線

光纖在極度彎曲后會有可能發(fā)生斷裂。故,請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內，然后放入積分半球內。粉狀物用cell用磁鐵固定在樣品口上（使用溫控系統(tǒng)時用無磁鐵的夾具固定）。Xe激發(fā)光（投光光纖）的照射位置可由積分球上方放置的監(jiān)控窗口（圖上顯示）來進行確認。請將激發(fā)波長設置到可視光范圍內確認。

FE3000反射式膜厚量測儀原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產生的發(fā)光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。

1）石英材質液體比色皿，光學透過率大于98%，全波段無熒光反應，用于液體樣品測試（3個）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

     2）具有專用的液體容器定位裝置，可實現(xiàn)入射光垂直入射到容器表面。

本儀器是一套使用積分半球對薄膜狀樣品或粉狀物樣品進行量子效率測試的系統(tǒng)。

     原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產生的發(fā)光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統(tǒng)采用了具有高靈敏度、高穩(wěn)定的本公司的光譜儀對光譜進行測量。

光纖在極度彎曲后會有可能發(fā)生斷裂。故,請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內，然后放入積分半球內。