你知道什么是電廠無(wú)損檢測(cè)檢驗(yàn)中心嗎

    我們大多數(shù)人可能都只是聽(tīng)別人講過(guò)射線照相法，知道它是應(yīng)用到工業(yè)生產(chǎn)的，但是射線照相法是什么，它是如何工作的，它在應(yīng)用時(shí)都需要做些什么，我們是不熟悉的，下面小編呢，就給大家簡(jiǎn)單的做個(gè)介紹，希望能幫助到大家。目前，射線照相法，主要是應(yīng)用于焊縫和鑄件的內(nèi)部質(zhì)量檢驗(yàn)，比如說(shuō)各種受壓容器、輸油、鍋爐、船體和輸氣管道等的焊縫，各種鑄鋼閥門(mén)、泵體、石油鉆探和化工、煉油設(shè)備中的受壓鑄件，精密鑄造的透平葉片，航空和汽車工業(yè)用的各種鋁鎂合金鑄件等。射線照相法對(duì)于觀察工件內(nèi)有可能缺少的小部件以及它們的大小和形狀，是比較方便的。有些儀器分析仍不可避免地需要通過(guò)一定的化學(xué)預(yù)處理和必要的化學(xué)反應(yīng)來(lái)完成。

    由于可以方便的進(jìn)行觀察，我們通常把它用來(lái)鑒別缺陷的性質(zhì)，它里面的射線底片可以長(zhǎng)期保存，這樣就更加方便作為檢驗(yàn)的原始記錄供多方研究。雖然說(shuō)這樣是比較方便的，但這種方法耗用的X射線膠片等器材費(fèi)用較高,檢驗(yàn)速度較慢，我們通常用來(lái)探查氣孔、夾渣、縮孔、疏松等體積性缺陷，而不易發(fā)現(xiàn)間隙很小的裂紋和未熔合等缺陷以及鍛件和管、棒等型材的內(nèi)部分層性缺陷。值得注意的是，射線對(duì)人體有害，需要采取適當(dāng)?shù)姆雷o(hù)措施。希望我們?cè)谶M(jìn)行生產(chǎn)創(chuàng)造的同時(shí)，也注意保護(hù)好自己。壓力容器無(wú)損檢測(cè)的主要方法有：射線檢測(cè)，超聲波檢測(cè)，磁粉檢測(cè)，滲透檢測(cè)，聲發(fā)射檢測(cè)，磁記憶檢測(cè)，等。

TOFD的缺點(diǎn)

1)近表面存在盲區(qū)，對(duì)該區(qū)域檢測(cè)可靠性不夠

2)對(duì)缺陷定性比較困難

3)對(duì)圖像判讀需要豐富經(jīng)驗(yàn)

4)橫向缺陷檢出比較困難

5)對(duì)粗晶材料，檢出比較困難

6)對(duì)復(fù)雜幾何形狀的工件比較難測(cè)量

7)不適合于T型焊縫檢測(cè)

A) 更加的尺寸測(cè)量精度(一般為±1mm，當(dāng)監(jiān)測(cè)狀態(tài)為±0.3mm)，且檢測(cè)時(shí)與缺陷的角度幾乎無(wú)關(guān)。尺寸測(cè)量是基于衍射信號(hào)的傳播時(shí)間而不依賴于波幅。

B) TOFD技術(shù)不使用簡(jiǎn)單的波幅閾值作為報(bào)告缺陷與否的標(biāo)準(zhǔn)。由于衍射信號(hào)的波幅并不依賴于缺陷尺寸，在任何缺陷可能被判不合格之前所有數(shù)據(jù)必須經(jīng)過(guò)分析，因此培訓(xùn)和經(jīng)驗(yàn)對(duì)于TOFD技術(shù)的應(yīng)用是極為基本的要求。

TOFD優(yōu)缺點(diǎn)

)TOFD檢測(cè)結(jié)果與射線檢測(cè)結(jié)果都是以二維圖像顯示，不同的是TOFD能對(duì)缺陷的深度和自身高度進(jìn)行測(cè)量，而射線檢測(cè)的圖像是在射線透照方向上的影像重疊，只能顯示缺陷的長(zhǎng)度和寬度，無(wú)法確定缺陷在射線透照方向上的具體位置(即深度)和自身高度，不便于對(duì)缺陷的返修和進(jìn)行其他判斷。在一定的光源下（黑光或白光），缺陷處的滲透劑痕跡被顯示（黃綠色熒光或鮮艷紅色），從而探測(cè)出缺陷的形貌及分布狀態(tài)。

2)TOFD技術(shù)可探測(cè)的厚度大，對(duì)厚板探傷的效果比較明顯，但射線對(duì)厚板的穿透能力非常有限。

3)TOFD技術(shù)檢測(cè)缺陷的能力非常強(qiáng)，特殊的探傷方式使其具有相當(dāng)高的檢出率，約90%左右，而相比之下，射線檢測(cè)的檢出率稍低，大約75%，在實(shí)際工作中，我們也發(fā)現(xiàn)有TOFD檢測(cè)出來(lái)的缺陷，X射線未能發(fā)現(xiàn)的情況，這給質(zhì)量控制帶來(lái)了極大的隱患。滲透檢測(cè)是產(chǎn)品制造中實(shí)現(xiàn)質(zhì)量控制、節(jié)約原材料、改進(jìn)工藝、提供勞動(dòng)生產(chǎn)率的重要手段，也是設(shè)備維護(hù)中不可或缺的手段。

4)TOFD技術(shù)所采集的是數(shù)據(jù)信息，能夠進(jìn)行多方位分析，甚至可以對(duì)缺陷進(jìn)行立體復(fù)原。這是因?yàn)門(mén)OFD技術(shù)是將掃查中所有的原始信號(hào)都進(jìn)行了保存，在脫機(jī)分析中我們可以利用計(jì)算機(jī)對(duì)這些原始信號(hào)進(jìn)行各種各樣的分析，以得出更加的缺陷判斷結(jié)果;而射線檢測(cè)只能將射線底片置于觀片燈前進(jìn)行分析，不可以再進(jìn)一步利用軟件對(duì)缺陷進(jìn)行更加的分析。3、去除滲透劑先用干布擦滲透液，再用沾有清洗劑的布或紙擦拭，不得往復(fù)擦拭，直至把滲透液擦拭干凈。

5)TOFD檢測(cè)操作簡(jiǎn)單，掃查速度快，檢測(cè);而射線檢測(cè)過(guò)程繁瑣，耗時(shí)長(zhǎng)，效率低下。

6)TOFD技術(shù)是利用超聲波進(jìn)行探傷，對(duì)檢測(cè)時(shí)的工作環(huán)境沒(méi)有特殊的要求。超聲波檢測(cè)是一種環(huán)保的檢測(cè)方式，對(duì)使用人員沒(méi)有任何傷害，所以在工作場(chǎng)合不需要特殊的安全保護(hù)措施;而射線檢測(cè)因其的危害性受到國(guó)家政策的嚴(yán)格控制，現(xiàn)場(chǎng)只能單工種工作，降低了檢測(cè)工作效率，阻礙了整個(gè)工程進(jìn)度。雖然說(shuō)這樣是比較方便的，但這種方法耗用的X射線膠片等器材費(fèi)用較高,檢驗(yàn)速度較慢，我們通常用來(lái)探查氣孔、夾渣、縮孔、疏松等體積性缺陷，而不易發(fā)現(xiàn)間隙很小的裂紋和未熔合等缺陷以及鍛件和管、棒等型材的內(nèi)部分層性缺陷。

超聲波探傷儀近顯示方式可分幾種？。

答：1、A型顯示示波屏橫座標(biāo)代表超聲波傳遞播時(shí)間（或距離）縱座標(biāo)代表反射回波的高度；2、B型顯示示波屏橫座標(biāo)代表超聲波傳遞播時(shí)間（或距離），這類顯示得到的是探頭掃查深度方向的斷面圖；磁粉應(yīng)直接噴或撒在被檢區(qū)域，并除去過(guò)量的磁粉，輕輕動(dòng)試件，使其獲得較為均勻的磁粉分布。3、C型顯示儀器示波屏代表被檢工件的投影面，這種顯示能繪出缺陷的水平投影位置，但不能給出缺陷的埋藏深度,。

超聲波探頭的主要作用是什么？

答：1、探頭是一個(gè)電聲換能器，并能將返回來(lái)的聲波轉(zhuǎn)換成電脈沖；2、控制超聲波的傳播方向和能量集中的程度，當(dāng)改變探 頭入射 角或改變超聲波的擴(kuò)散角時(shí)，可使聲波的主要能量按不同的角度射入介質(zhì)內(nèi)部或改波的指向性，提高分辨率；3、實(shí)現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換；4、控制工作頻率；像質(zhì)計(jì)（像質(zhì)指示器，透度計(jì)）是測(cè)定射線照片的射線照相靈敏度的器件，根據(jù)在底片上顯示的像質(zhì)計(jì)的影像，可以判斷底片影像的質(zhì)量，并可評(píng)定透照技術(shù)、膠片暗室處理情況、缺陷檢驗(yàn)?zāi)芰Φ?。適用于不同的工作條件。