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發(fā)布時(shí)間:2021-01-09 06:10  

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電子元器件發(fā)展史其實(shí)就是一部濃縮的電子發(fā)展史。電子技術(shù)是十九世紀(jì)末、二十世紀(jì)初開(kāi)始發(fā)展起來(lái)的新興技術(shù),二十世紀(jì)發(fā)展迅速,應(yīng)用廣泛,成為近代科學(xué)技術(shù)發(fā)展的一個(gè)重要標(biāo)志。


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CBGA 封裝的優(yōu)點(diǎn)如下:1、氣密性好,抗?jié)駳庑阅芨?,因而封裝組件的長(zhǎng)期可靠性高;2、與 PBGA 器件相比,電絕緣特性更好;3、與 PBGA 器件相比,封裝密度更高;4、散熱性能優(yōu)于 PBGA 結(jié)構(gòu)。


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可以用于對(duì)整個(gè)BGA器件組裝工藝過(guò)程進(jìn)行精j確測(cè)量和質(zhì)量檢測(cè)的檢驗(yàn)設(shè)備非常少,自動(dòng)化的激光檢測(cè)設(shè)備能夠在元器件貼裝前測(cè)試焊劑的涂覆情況,但是它們的速度緩慢,不能用來(lái)檢驗(yàn)BGA器件焊接點(diǎn)的再流焊接質(zhì)量。


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以焊接點(diǎn)為中心取若干個(gè)環(huán)線,測(cè)量每個(gè)環(huán)線上焊料的厚度環(huán)厚度測(cè)量和它們的各種變化率,展示焊接點(diǎn)內(nèi)的焊料分布情況,利用這些參數(shù)在辯別潤(rùn)濕狀況優(yōu)劣和空隙存在情況時(shí)顯得特別的有效。④焊接點(diǎn)形狀相對(duì)于圓環(huán)的誤差(也稱(chēng)為圓度)焊接點(diǎn)的圓度顯示焊料圍繞焊接點(diǎn)分布的勻稱(chēng)情況,作為同一個(gè)園相比較,它反映與中心對(duì)準(zhǔn)和潤(rùn)濕的情況。B檢測(cè)絕緣性能將萬(wàn)用表置于R×10k擋,做如下幾種狀態(tài)測(cè)試:(1)初級(jí)繞組與次級(jí)繞組之間的電阻值。