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發(fā)布時(shí)間:2021-10-20 12:19  
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蔡司三坐標(biāo)測量機(jī)
發(fā)動機(jī)制造業(yè)
發(fā)動機(jī)是由許多各種形狀的零部件組成,這些零部件的制造質(zhì)量直接關(guān)系到發(fā)動機(jī)的性能和壽命。因此,需要在這些零部件生產(chǎn)中進(jìn)行非常精密的檢測,以保證產(chǎn)品的精度及公差配合。在現(xiàn)代制造業(yè)中,高精度的綜合測量機(jī)越來越多的應(yīng)用于生產(chǎn)過程中,使產(chǎn)品質(zhì)量的目標(biāo)和關(guān)鍵漸漸由檢驗(yàn)轉(zhuǎn)化為對制造流程進(jìn)行控制,通過信息反饋對加工設(shè)備的參數(shù)進(jìn)行及時(shí)的調(diào)整,從而保證產(chǎn)品質(zhì)量和穩(wěn)定生產(chǎn)過程,提高生產(chǎn)效率。
觸發(fā)測頭
測點(diǎn)數(shù)目給了我們很清楚的指示,如果被測零件的測量要求中有關(guān)于圓度的測量需求,那需要使用掃描測頭。試想一下,如果1個(gè)圓的64個(gè)測點(diǎn)采用單點(diǎn)觸發(fā)式測頭來測量的話,其測量效率顯然是難以讓人接受的。從測量效率和合理性出發(fā),事實(shí)上不僅是圓度,其它類型的形狀公差測量都應(yīng)采用連續(xù)掃描測頭,否則難以準(zhǔn)確地評價(jià)被測元素的形狀公差。
接觸式測頭與光學(xué)測頭
對于表面數(shù)字化,其目的是要獲取零件表面輪廓,這就需要大量獲取輪廓的空間點(diǎn)坐標(biāo)。而對于接觸式測頭來說,一個(gè)一個(gè)點(diǎn)逐次獲取的方式是無法勝任百萬數(shù)量級點(diǎn)數(shù)的要求的,哪怕是連續(xù)掃描測頭,也只是通過測頭不離開零件表面的方式來提高取點(diǎn)速度,本質(zhì)上還是單點(diǎn)采集。這類應(yīng)用當(dāng)中,線光源和面光源測頭就很好彌補(bǔ)了接觸式測頭的不足,線掃描測頭通過一條由若干點(diǎn)的激光在工件表面移動,即可掃描出一片區(qū)域;而面拍照測頭則是通過一組編碼的光線柵格,一次性獲取一個(gè)特定大小區(qū)域內(nèi)的點(diǎn)云。