大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

使用顯微光譜法在微小區(qū)域內通過絕i對反射率進行測量，可進行高i精度膜厚度/光學常數分析。

可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學常數的軟件

硬涂層膜厚度的測量[FE-0004]

近年來，使用具有各種功能的高i性能薄膜的產品被廣泛使用，并且根據應用不同，還需要提供具有諸如摩擦阻力，抗沖擊性，耐熱性，薄膜表面的耐化學性等性能的保護薄膜。通常保護膜層是使用形成的硬涂層（HC）膜，但是根據HC膜的厚度不同，可能出現不起保護膜的作用，膜中發(fā)生翹曲，或者外觀不均勻和變形等不良。 因此，管理HC層的膜厚值很有必要。

膜厚儀如何系統校準?

校準的方法、種類，這是新用戶經常會遇到的問題。系統校準、零點校準還有兩點校準其實都已經在說明書上寫到了，用戶只需仔細閱讀就可以了。需要注意的是：在校準鐵基時1好是多測量幾次以防止錯誤操作;系統校準的樣片要按照從小到大的順序進行。如果個別標準片丟失可以找與其數值相近的樣片代替。

　膜厚儀廠家解釋凡其厚度與入射光波長相比擬的并能引起干涉現象(相干光程小于相干長度)的膜層為薄膜，其厚度遠大于入射光波波長的膜層稱之為厚膜。如今，微電子薄膜，光學薄膜，抗1氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導薄膜等在工業(yè)生產和人類生活中的不斷應用，在工業(yè)生產的薄膜，其厚度是一個非常重要的參數，直接關系到該薄膜材料能否正常工作。