X-RAY測厚儀特點(diǎn)

1，價(jià)格高，機(jī)種不同，價(jià)格在10萬~100萬左右，可測試P（磷）~U（鈾），并且支持Rohs及元素分析功能等。

 2，無損檢測，Windows操作系統(tǒng)，使用簡便。操作快速，能適應(yīng)多類鍍層，大量檢測，但體積較大，計(jì)算機(jī)除外約100000cm2，50000g左右。

3，測量厚度范圍較廣，

0.002um~100um左右，能測試5層以上膜厚，并且可以測量合金鍍層，也可分析鍍層元素和含量比。

4，測量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。

5，測頭的面積較小，對需測的樣品要求不高：0.1mmψ以下也可測量，基材厚度無要求。

6，可編程XYZ測量臺(tái)及大移動(dòng)范圍。

江蘇一六儀器    X熒光光譜測厚儀

下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對焦樣品。

  無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

  微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

  接收：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

  精密微型滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。

  EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。

X射線熒光光譜儀是基于X射線熒光光譜法而進(jìn)行分析的一種常見分析儀器。通常認(rèn)為X區(qū)域0.01-10nm之間的一段電磁波譜，短波邊以伽馬射線為界，長波邊與真空紫外線區(qū)域的實(shí)際界線。

X射線熒光光譜儀特點(diǎn)

1、一種真正意義上 的無損分析，在分過程中不會(huì)改變樣品的化學(xué)形態(tài)。具有不污染、節(jié)能低耗等優(yōu)點(diǎn)。

2、分析速度快，無須進(jìn)行樣品預(yù)處理，升值無須樣品的制備，X射線熒光光譜分析可以篩選大量的樣品。一般情況下檢測在3分鐘以下。

3、自動(dòng)化程度高。

4、可以同時(shí)測定樣品中的多種元素。

5、隨著分析技術(shù)的發(fā)展，儀器可以滿足很多行業(yè)的需求。如：地質(zhì)礦產(chǎn)，冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、鍍層等諸多行業(yè)。

6、樣品的形態(tài)廣。

7、X射線熒光光譜儀分為波長色散譜儀和能量色散譜儀可以滿足各行個(gè)元素的需求。

8、X射線熒光光譜儀中的能量色散儀是低分辨率光譜儀已是在線分析的選擇儀器之一。

江蘇一六儀器   X射線熒光光譜測厚儀    一次性同時(shí)分析：23層鍍層，24種元素

                                                      厚度di檢出限：0.005um

性能優(yōu)勢

精密的三維移動(dòng)平臺(tái)

的樣品觀測系統(tǒng)

先進(jìn)的圖像識(shí)別

輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測

四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動(dòng)切換

雙重保護(hù)措施，實(shí)現(xiàn)無縫防撞

采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度

全自動(dòng)智能控制方式，一鍵式操作!

開機(jī)自動(dòng)退出自檢、復(fù)位

開蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái)，升起Z軸測試平臺(tái)，方便放樣

關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái)，下降Z軸測試平臺(tái)并自動(dòng)完成對焦

直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測試點(diǎn)

點(diǎn)擊軟件界面測試按鈕，自動(dòng)完成測試并顯示測試結(jié)果