近紅外光譜儀器技術(shù)

近紅外光譜分析主要利用分子的倍頻與合頻吸收，而分子在近紅外區(qū)的倍頻與合頻吸收弱，譜帶復(fù)雜，重疊多。因此，近紅外光譜分析屬于微弱信號(hào)與多元信息的處理。近十多年來由于光學(xué)技術(shù)、電子技術(shù)與計(jì)算機(jī)軟硬件技術(shù)的發(fā)展，進(jìn)口近紅外光譜儀原理，使分析科學(xué)中弱信號(hào)處理的理論和技術(shù)越來越成熟，它們被用來解決NIR光譜吸收弱的困難?，F(xiàn)代數(shù)學(xué)在分析中的應(yīng)用，化學(xué)計(jì)量學(xué)的發(fā)展以及計(jì)算機(jī)的廣泛應(yīng)用，布魯克近紅外光譜儀原理，使多組分分析中多元信息處理的理論與技術(shù)得到發(fā)展，它們被用于解決NIR譜區(qū)重疊的困難。近紅外光譜分析主要可分為透射光譜分析和漫反射光譜分析。透射光譜分析使用近紅外的短波長區(qū)域主要用于對(duì)液體狀樣品或透過率較大的樣品進(jìn)行分析;漫反射光譜分析使用近紅外的長波長區(qū)域主要用于對(duì)粉末狀樣品或固體樣品進(jìn)行分析。

紅外光譜儀常見故障及排査方法

紅外光譜儀干涉圖能量低，導(dǎo)致信噪比不理想。

可能原因：

1.光路準(zhǔn)直未調(diào)節(jié)好或非智能紅外附件位置未調(diào)整到正確位置；

2.紅外光源已損壞或能量已衰竭

3.檢測器已損壞或MCT檢測器無液氮；

4.分束器損壞；

5.各種紅外反射鏡或紅外附件的鏡面太臟；

6.光闌孔徑太小或信號(hào)增益倍數(shù)太??；

7.圓光路中有衰減器。

排除方法：

1.啟動(dòng)光路自動(dòng)準(zhǔn)直程序，如果正在使用非智能紅外附件，則還需要人工準(zhǔn)直；

2.更換紅外光源；

3.請(qǐng)維修工程師檢查，必要時(shí)更換檢測器(檢測器損壞很有可能是由于受潮

引起，因此更換后應(yīng)注意保持儀器室的干燥，對(duì)于MCT檢測器可添加液氮再重

新檢查；

4.請(qǐng)維修工程師檢查，必要時(shí)更換分束器(分束器損壞很可能是由于受潮引

起或更換時(shí)碰撞產(chǎn)生裂痕引起，因此更換后應(yīng)注意保持儀器室的干燥，從儀器上取出或裝入時(shí)一定要非常小心)；

5.請(qǐng)維修工程師清洗；

6.重新設(shè)置光闌孔徑或信號(hào)增益倍數(shù)，使之處于適當(dāng)值；

7.取下光路中的衰減器。

紅外光譜儀光學(xué)臺(tái)未能工作，不能產(chǎn)生干涉圖：

可能原因：

1.分束器未固定好或已損壞；

2.計(jì)算機(jī)與光學(xué)臺(tái)未能連接；

3.控制電路板損壞；

4.光譜儀輸出電壓不正常；

5.操作軟件有問題；

6.光譜儀室溫度過高或過低；

7.檢測器已完全損壞；

8.He-Ne激光器不工作或能量已較大衰減。

紅外光譜儀使用需要注意的事項(xiàng)

一、注意要符合規(guī)定的環(huán)境條件來使用，值得相信的紅外光譜儀廠家提醒要注意實(shí)驗(yàn)室的溫度以及相對(duì)濕度都應(yīng)該在標(biāo)準(zhǔn)范圍以內(nèi)，所用電源應(yīng)配備有穩(wěn)壓裝置和接地線。為了更好的把關(guān)這些條件，紅外實(shí)驗(yàn)室的面積不要太大，能放得下必須的儀器設(shè)備即可，但室內(nèi)一定要有除濕裝置。還有實(shí)驗(yàn)室里的CO2含量不能太高，因此實(shí)驗(yàn)室里的人數(shù)應(yīng)盡量少，無關(guān)人員盡量不要進(jìn)入，還要注意適當(dāng)通風(fēng)換氣。

二、為防止儀器受潮而影響使用壽命，紅外光譜儀商家強(qiáng)調(diào)紅外實(shí)驗(yàn)室應(yīng)經(jīng)常保持干燥，即使儀器不用，布魯克近紅外光譜儀原理，也應(yīng)每周開機(jī)至少兩次，每次半天，同時(shí)開除濕機(jī)除濕。特別是霉雨季節(jié)，盡量是能每天開除濕機(jī)。還有使用紅外光譜儀測定用樣品應(yīng)干燥，否則應(yīng)在研細(xì)后置紅外燈下烘幾分鐘使干燥。試樣研好并具在模具中裝好后，應(yīng)與真空泵相連后抽真空至少2分鐘，以使試樣中的水分進(jìn)一步被抽走，近紅外光譜儀原理，然后再加壓到一定的標(biāo)準(zhǔn)后維持幾分鐘。

三、注意在使用紅外光譜儀時(shí)，如供試品為鹽酸鹽，因考慮到在壓片過程中可能出現(xiàn)的離子交換現(xiàn)象。

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